產品詳情
簡單介紹：
D1型磁粉標準試片符合JB4730.4-2005標準，用於狹窄部位測試。是磁粉探傷必備的工具。該試片攜帶方便，操作簡單。
詳情介紹：
D1型磁粉標準試片用於檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（係統靈敏度），及磁化方向，有效磁化範圍和大致的有效磁場強度。考察所采用的探傷工藝規程。
規格：15/50、7/50、30/50
尺寸：10*10mm
厚度：50μm
D1型標準試片符合JB4730.4-2005標準，用於狹窄部位測試。是磁粉探傷必備的工具。該試片攜帶方便，操作簡單。
其他規格的探傷試片有A1型、C1型、M1型。
規格：15/50、7/50、30/50
尺寸：10*10mm
厚度：50μm
D1型標準試片符合JB4730.4-2005標準，用於狹窄部位測試。是磁粉探傷必備的工具。該試片攜帶方便，操作簡單。
其他規格的探傷試片有A1型、C1型、M1型。