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梅特勒-托利多新型超越係列上市
日期：2024-06-27 06:56
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摘要：
2010年3月，梅特勒-托利多新型超越係列上市中文密度計/折光率儀！
新的中文密度計和折光率儀包括5款主機：DM40、DM45DeltaRange、DM50、RM40、RM50和對應的5款模塊：DX40、DX45DeltaRange、DX50、RX40、RX50。新儀器具有操作更加簡單，測量更加**和模塊化組合的特點，並且能夠完全自動的同時測定pH值、電導率和色度。同時，在新的LabX™2010軟件支持下，密度計和折光率儀能夠方便的同LIMS/SAP等係統實現無縫連接。
超越係列中文密度計/折光率儀的特點如下：
l 操作簡單
中文觸摸屏和一鍵測定使用戶能簡單、快速、直接的啟動常規分析任務，*是當把常規任務做成清晰的快捷鍵放在桌麵上的時候，而且每一個操作者都有自己個性化的主界麵、快捷鍵和操作語言等。*的產品/方法概念不需要用戶做任何設置就能自動按照測試要求啟動測定，測定結果能自動轉換成用戶定義的單位，如白利糖度或酒精度，同時，精準的條形碼掃描功能可以便利的輸入樣品數據，並確保正確的方法被自動選擇。
l 精準高效
完全模塊化加上高度靈活的概念使密度計和折光率儀同pH計、電導率儀、色度計*整合，簡單的係統擴展就能同時測定幾個參數。強有力的自動進樣係統保證整個測量過程完全自動的運行，並*大限度的節約時間和溶劑。全新的LabX™2010軟件無縫連接LIMS/SAP係統，同時，它有機的整合包括相關數據的樣品係列到整個質量控製係統中。
l ***大化
使用指紋識彆方式進行用戶識彆和登錄控製，以及可靠的可追溯性使LabX™軟件非常方便的、完全的滿足各行各業的法規要求。**的檢查和自動誤差檢測功能，以及自動校準驗證功能使整個係統非常的**，進而保證測量結果的準確性。
有關超越係列中文密度計/折光率儀更多的詳細信息請見相關樣本（51725235，51725240）。
梅特勒-托利多始終致力於技術的不斷革新，並為客戶提供*的解決方案，我們相信新型超越係列中文密度計/折光率儀一定會為我們客戶的測量帶來更多的便利！